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1 single event latchup
необратимый отказ
Вид неустранимого отказа, возникающий при кратковременных воздействиях на бортовое оборудование сильных доз радиации (от одиночных высокоэнергетических частиц); который приводит к его полному выходу из строя. После окончания воздействия в микросхеме появляются необратимые изменения (так называемый эффект “защелкивания”), которые делают ее неработоспособной.
[Л.М. Невдяев. Телекоммуникационные технологии. Англо-русский толковый словарь-справочник. Под редакцией Ю.М. Горностаева. Москва, 2002]Тематики
- электросвязь, основные понятия
EN
Англо-русский словарь нормативно-технической терминологии > single event latchup
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2 single event latchup susceptibility
English-Russian dictionary of program "Mir-Shuttle" > single event latchup susceptibility
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3 SEL
лаборатория по проблемам солнечной энергии
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[А.С.Гольдберг. Англо-русский энергетический словарь. 2006 г.]Тематики
EN
необратимый отказ
Вид неустранимого отказа, возникающий при кратковременных воздействиях на бортовое оборудование сильных доз радиации (от одиночных высокоэнергетических частиц); который приводит к его полному выходу из строя. После окончания воздействия в микросхеме появляются необратимые изменения (так называемый эффект “защелкивания”), которые делают ее неработоспособной.
[Л.М. Невдяев. Телекоммуникационные технологии. Англо-русский толковый словарь-справочник. Под редакцией Ю.М. Горностаева. Москва, 2002]Тематики
- электросвязь, основные понятия
EN
Англо-русский словарь нормативно-технической терминологии > SEL
См. также в других словарях:
Single Event Latchup — Der Fachbegriff Latch Up (englisch Single Event Latch Up; abgekürzt SEL) bezeichnet in der Elektronik den Übergang eines Halbleiterbauelements, wie beispielsweise in einer CMOS Stufe, in einen niederohmigen Zustand, der zu einem elektrischen… … Deutsch Wikipedia
Single event upset — A single event upset (SEU) is a change of state caused by a low energy ions or electro magnetic or nuclear radiation interferences strike to a sensitive node in a micro electronic device, such as in a microprocessor, semiconductor memory, or… … Wikipedia
Single Event Effect — Die Bezeichnung Single Event Effect (SEE) ist der Oberbegriff für Effekte, die in Halbleiterbauelementen durch den Einschlag, bzw. das Durchqueren eines Teilchens einer ionisierenden Strahlung ausgelöst werden können. Zu diesen Strahlungen zählen … Deutsch Wikipedia
Latchup — A latchup is the inadvertent creation of a low impedance path between the power supply rails of an electronic component, triggering a parasitic structure, which then acts as a short circuit, disrupting proper functioning of the part and possibly… … Wikipedia
Latchup — Der Fachbegriff Latch Up (englisch Single Event Latch Up; abgekürzt SEL) bezeichnet in der Elektronik den Übergang eines Halbleiterbauelements, wie beispielsweise in einer CMOS Stufe, in einen niederohmigen Zustand, der zu einem elektrischen… … Deutsch Wikipedia
Radiation hardening — is a method of designing and testing electronic components and systems to make them resistant to damage or malfunctions caused by ionizing radiation (particle radiation and high energy electromagnetic radiation),[1] such as would be encountered… … Wikipedia
SEGR — Die Bezeichnung Single Event Effect (SEE) ist der Oberbegriff für Effekte, die in Halbleiterbauelementen durch den Einschlag, bzw. das Durchqueren eines Teilchens einer ionisierenden Strahlung ausgelöst werden können. Zu diesen Strahlungen zählen … Deutsch Wikipedia
Durcissement (électronique) — Le durcissement des composants électroniques contre les rayonnements ionisants désigne un mode de conception, de réalisation et de test des systèmes et composants électroniques pour les rendre résistants aux dysfonctionnements et dégradations… … Wikipédia en Français
Durcissement aux radiations — Durcissement (électronique) Le durcissement des composants électroniques contre les rayonnements ionisants désigne un mode de conception, de réalisation et de test des systèmes et composants électroniques pour les rendre résistants aux… … Wikipédia en Français
Rad-hard — Durcissement (électronique) Le durcissement des composants électroniques contre les rayonnements ionisants désigne un mode de conception, de réalisation et de test des systèmes et composants électroniques pour les rendre résistants aux… … Wikipédia en Français
Radiation hardening — Durcissement (électronique) Le durcissement des composants électroniques contre les rayonnements ionisants désigne un mode de conception, de réalisation et de test des systèmes et composants électroniques pour les rendre résistants aux… … Wikipédia en Français